SEM+EDS(扫描电镜+能谱仪)
英文名称:Scanning electron microscope+energy spectrometer
产地国别:日本
制 造 商:日本株式会社日立高新技术那珂事业场
原    值:260.77(万元)
运行状态:正常
启用日期:2018-06-25
所属单位:安徽理士电源技术有限公司
累计评价:0 累计服务:0
所属大类:单台套科学仪器设备
仪器信息 位置信息 累计服务 评论(0

仪器入网编号:340600090001

仪器设备分类:通用

主要学科领域:化学

仪器设备来源:购置

通讯地址:安徽省淮北市濉溪经济开发区迎春路1号

邮政编码:235100

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仪器所属类别:扫描电镜

规格型号:SU3500

主要功能:扫描电镜利用二次电子信号成像来观察样品的表面形态,能谱仪用来对材料微区成分元素种类与含量进行分析,配合扫描电子显微镜使用。

主要技术指标:SU3500新型日立扫描电镜,是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观形貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。X-Flash SDD 硅漂流探测器:具有无液氮、高分辨率、高输出效率三大特点;采用二级Peltier效应的电制冷方式保证探测器在长期稳定工作,而不需要任何制冷剂和外部制冷设备,同时也避免了其他机械制冷方式可能引起的振动; X-Flash的能量分辨率在1000cps~100000cps的输入计数率条件下,可以保持在Mn元素Ka分辨率≤123eV,F元素分辨率≤54 eV,C 元素分辨率≤46 eV;X-Flash即使是在非常高的计数率情况下,仍然具有很高的分辨率,在进行面扫时,可以节省几个量级的时间;无振动,具有低的维护和操作费用,体积小,重量轻。分析界面友好,操作简单;可以适用于各种型号、品牌的SEM、TEM等,并且能够达到优化的立体角和检出角。

服务内容:显微组织形貌的观察和微区成分分析,而每种元素特征X射线具有固定的能量,通过检测特征X射线的能量进而判断元素的种类,确定物质的元素组成。

服务的典型成果:用于“电网侧调频用铅碳电池研发”项目等。

对外开放共享规定:由双方协商解决。

参考收费标准:双方协商。

安放地址:经济开发区迎春路1号

人员轨迹监管

地址:经济开发区迎春路1号

邮编:235100

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