场发射扫描电镜
英文名称:Field Emission scanning electron microscope
产地国别:日本
制 造 商:日本电子株式会社(JEOL)
原    值:245.48(万元)
运行状态:
启用日期:2003-03-01
所属单位:中国科学技术大学
累计评价:0 累计服务:0
所属大类:单台套科学仪器设备
仪器信息 位置信息 累计服务 评论(0

仪器入网编号:340100019882

仪器设备分类:通用

主要学科领域:

仪器设备来源:购置

通讯地址:安徽省合肥市黄山路373号中国科学技术大学理化科学实验中心

邮政编码:230022

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仪器所属类别:透射电镜

规格型号:JSM-6700F

主要功能:本仪器具有高的分辨率,放大倍率几十倍到几十万倍连续可调,可观察物体二次电子像、背散射电子像,同时可进行X射线能谱分析: 1. 固体物质表面形貌观察 可广泛应用于生物、物理、化学、纳米材料、金属材料、高分子材料等方面的表面形貌观察、粒度测量、集成电路质量检验、断口分析、失效分析等。 2. 背散射电子像(BSE) 背散射电子可显示出试样微区原子序数或化学成分的差异,即试样的成分衬度。根据背散射电子像的亮暗程度,可判别出相应区域的原子序数的相对大小,由此可对陶瓷、金属或合金等材料的显微结构进行分析。

主要技术指标:分辨率 1.0nm @ 15kV, 能谱分辨率133eV(Mn Ka),分析元素B(5)-- U(92)

服务内容:样品表面形貌表征,能谱分析

服务的典型成果:

对外开放共享规定:遵照中国科学技术大学公共实验中心对外共享统一规定

参考收费标准:100元/样品

安放地址:安徽省合肥市蜀山区黄山路373号中国科学技术大学中区理化科学实验中心1楼

人员轨迹监管

地址:安徽省合肥市蜀山区黄山路373号中国科学技术大学中区理化科学实验中心1楼

邮编:230022

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